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    MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光譜儀
    MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光譜儀
    • MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光譜儀
    • MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光譜儀

    MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光譜儀

    基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

    微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。

    基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

    應用

    PCB / PWB 表面處理

    控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產品幫助您在嚴控的范圍內持續運營,確保高質量并避免昂貴的返工。

    電力和電子組件的電鍍

    零件必須在規格范圍內被電鍍,以達到預期的電力、機械及環境性能。 開槽的X-Strata和MAXXI系列產品 ,可以測量小的試片或連續帶狀樣品,從而達到 引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。

    IC 載板

    半導體器件越來越小巧而復雜,需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析,及重復性好的數據。

    服務電子制造過程 (EMS、ECS)

    結合采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點,實現從進廠檢查到生產線流程控制,再到質量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和終品,確保每個階段的質量。

    光伏產品

    對可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性,從而確保效率。

    受限材料和高可靠性篩查

    與復雜的全球供應鏈合作,驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關重要。使用日立分析儀器的XRF技術,根據IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規要求,確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和軍事領域。


    X-Strata 920
    正比計數器

    MAXXI 6
    高分辨率SDD

    ENIG ★★☆ ★★★
    ENEPIG ★★☆ ★★★
    非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552) ★★★
    非電鍍鎳厚度 ★★☆ ★★★
    浸鍍銀 ★★☆ ★★★
    浸鍍錫 ★★☆ ★★★
    HASL ★★☆ ★★★
    無鉛焊料(如 SAC) ★☆☆ ★★★
    CIGS ★★★
    CdTe ★★★
    納米級薄膜分析 ★★★
    多層分析 ★★☆ ★★★
    IEC 62321 RoHS 篩選 ★★★

    耐腐蝕性

    檢驗所用涂層的厚度和化學性質,以確保產品在惡劣環境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。

    耐磨性

    通過確保磨蝕環境中關鍵部件的涂層厚度和均勻度,預防產品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。

    裝飾性表面

    當目標是實現無瑕表面時,整個生產過程中的質量控制至關重要。通過日立分析儀器的多種測試設備,您可以可靠地檢測基材,中間層和頂層厚度。

    耐高溫

    在端條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內。確保符合涂鍍層規格、避免產品召回和潛在的災難性故障。


    X-Strata 920
    正比計數器

    MAXXI 6
    高分辨率SDD

    Zn / Fe, Fe 合金
    Cr / Fe, Fe 合金
    Ni / Fe, Fe 合金
    ★★☆ ★★★
    ZnNi / Fe, Fe 合金
    ZnSn / Fe, Fe 合金
    ★★☆ ★★★
    NiP / Fe
    NiP / Cu
    NiP / Al
    ★★☆
    (僅厚度)
    ★★★
    (厚度和成分)
    Ag / Cu
    Sn / Cu
    ★★☆ ★★★
    Cr / Ni / Cu / ABS ★★☆ ★★★
    Au / Pd / Ni /CuZn ★★☆ ★★★
    WC / Fe, Fe 合金
    TiN / Fe, Fe 合金
    ★★☆ ★★★
    納米級薄膜分析 ★★★
    多層分析 ★★☆ ★★★
    IEC 62321 RoHS 篩選 ★★★

    型號

    憑借卓越的分辨率和高效率 SDD,MAXXI 6 是測量涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達6個主濾波器和8個準直器,能夠處理具戰性的應用。巨大的開槽室設計是小、大或長樣本的理想選擇。優化的硬件配置可以直接分析化學鍍鎳應用中的%P。

    X-Strata920 可被配置為三個不同的樣品臺配置,以應對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個可移動托盤,可快速被配置,以搭配小或大零件(6英寸)。電動X-Y臺可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。

    X-Strata 920
    • 正比計數器系統
    • 元素范圍:鈦 - 鈾
    • 樣品艙設計:開槽
    • XY 軸樣品臺選擇: 固定臺、加深臺、自動臺
    • 樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米
    • 數量準直器:6
    • 濾波器:3
    • 的準直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
    • SmartLink 軟件
    MAXXI 6
    • 高分辨率 SDD
    • 元素范圍: 鋁 - 鈾
    • 樣品艙設計:開槽
    • XY 軸樣品臺選擇:固定臺、自動臺
    • 樣品尺寸:500 x 450 x 170毫米
    • 數量的準直器:8
    • 濾波器:5
    • 的準直器: 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)
    • SmartLink 軟件
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